【XC61FC替換ILC5062】
XC61F系列為內(nèi)置延遲電路的電壓檢測器。采用CMOS工藝和激光微調(diào)技術(shù),實(shí)現(xiàn)了高精度, 低電流消耗。檢測電壓精度高,且溫度漂移極小。輸出電路有N溝開漏和CMOS 2種。因內(nèi)置延遲電路,所以不需要外置元件,可實(shí)現(xiàn)高密度安裝。
XC61F系列 特點(diǎn)：
高電壓檢測精度:±2%
低消耗電流:1.0μA(TYP.)[VIN=2.0V]
檢測電壓范圍:能夠在1.6V～6.0V范圍內(nèi)以0.1V間隔設(shè)定
工作電壓范圍:0.7V～10.0V
檢測電壓溫度特性:±100ppm/℃(TYP.)
內(nèi)置延遲電路:1ms～50ms,50ms～200ms,80ms～400ms
輸出形式:N溝道開漏/CMOS輸出
封裝:SOT-23, SOT-89, TO-92
【XC61H替換MAX809/803】
XC61H系列產(chǎn)品是內(nèi)置延遲電路的電壓檢測器。采用CMOS工藝和激光微調(diào)技術(shù)實(shí)現(xiàn)了高精度, 低消耗電流。檢測電壓精度高并且溫度漂移極小。
有N-ch漏極開路和CMOS兩種輸出電路。
由于內(nèi)置延遲電路不需外裝元件,能實(shí)現(xiàn)高密度實(shí)裝。
特點(diǎn)：
高精度：± 2%
低消耗電流：1.0μA(TYP.)[ VIN=2.0V ]
檢測電壓范圍：1.6V ~ 6.0V (0.1V increments)
工作電壓范圍：0.7V ~ 10.0V
檢測電壓溫度特性 ±100ppm/℃(TYP.)
解除延遲時間①1ms (MIN.) ②50ms (MIN.) ③80ms (MIN.)
輸出形式：CMOS或N溝道開漏
封裝：SOT-23 |
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